
當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > x射線熒光光譜儀 > 進口X射線熒光光譜儀 > Zetium馬爾文帕納科 落地式XRF
簡要描述:X射線熒光光譜儀 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析,包括固體、液體和疏松粉末。馬爾文帕納科 落地式XRF Zetium專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應用需求而設計,其高品質的設計和功能,可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
更新時間:2026-06-03
產(chǎn)品型號:Zetium
訪 問 量:81

詳細介紹
Zetium 包含了 SumXcore 技術,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰?、速度和任務靈活性。
Zetium 配備了我們新版本的 SuperQ 軟件(包括 Virtual Analyst),可幫助非專家用戶輕松地設置應用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊,例如無標分析、地質痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。
針對特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)版:水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。另外提供可滿足各行業(yè)嚴苛要求的高配置版本:Zetium高配置版。 Zetium 平臺的模塊化設計允許通過各種軟件包來實現(xiàn)以任務為導向的性能增強。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案;從連接樣品制備裝置的簡單接口,到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強靈敏度
一系列 X 射線光管陽極材料(銠、鉻、鉬和金)可確保發(fā)揮特定應用性能
用于增強靈敏度和加大過渡金屬分析動態(tài)范圍的復合探測器
用于擴大的重元素動態(tài)范圍(線性高達 3.5 Mcps)的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進行高精度分析
Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件
整套應用程序設置模塊和軟件解決方案
使用無標 XRF 分析,對未知材料進行分析,或者在沒有標準的情況下進行分析
多元素微小區(qū)域分析
可編程的面罩,適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
SumXcore 技術 - 利用 ED core(能譜核)將測量時間縮短多達 50%
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度
Hi-Per 通道可實現(xiàn)對輕元素的同步測量
連續(xù)和直接進樣可大大縮短儀器的進樣時間
高容量進樣器臺(最多 209 位)可滿足高處理量應用需求
進樣器條形碼閱讀器選項可實現(xiàn)快速、*的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入
除塵設備可盡量減少污染,并能夠大大提升儀器的正常運行時間
用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層
樣品類型識別(固體和液體)
條形碼閱讀器可實現(xiàn)無差錯的樣品數(shù)據(jù)錄入
節(jié)省空間的緊湊型設計
小體積空氣鎖設計 - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中,或對液體分析實現(xiàn)低氦氣消耗
便于檢修的服務模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機時間
制冷機可從實驗室?guī)ё邿崃?- 避免實驗室空調基礎設施負荷過重
可節(jié)省成本的成套解決方案

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