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400-875-1717轉866
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展期：2026年3月25日-27日
展館：上海新國際博覽中心 N2 號館
地址：上海市•浦東龍陽路2345號
展位號：N2-2706
2026年3月25日至27日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）將與思百吉旗下另外兩家兄弟公司：美國粒子監測系統公司（PARTICLE MEASURING SYSTEMS）和仕富梅（SERVOMEX） 攜手參加在上海新國際博覽中心舉行的Semicon China 2026 上海國際半導體展，為半導體行業帶來涉及化合物半導體薄膜測量、晶向定位、顆粒表征、微污染監測以及氣體傳感器等分析測試解決方案。期待您蒞臨展位，共同探討分析測試儀器在半導體行業的應用與發展。
N2-2706 馬爾文帕納科與思百吉兄弟公司的聯合展位
展位效果圖
馬爾文帕納科材料表征技術一直致力于服務先進半導體的研發和生產，產品應用不斷豐富*，除了用于晶圓制造、薄膜沉積、外延分析的XRD系列產品外，馬爾文帕納科顆粒表征產品也將為晶圓化學拋光、CMP漿料開發、光刻膠、封裝與膠體固化等領域提供值得信賴的解決方案。
馬爾文帕納科Semicon微站
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展會地點：上海新國際博覽中心（SNIEC）
地址：上海浦東新區龍陽路2345號
交通：
地鐵7號線：終點花木路1號出口即到走2號登記大廳
出租車停靠地點：芳甸路花木路路口走2號登記大廳
自駕車：停靠在花木路羅山路路口走3號登記大廳
馬爾文帕納科所在聯合展位位于
靠近N2展廳6號入口2706展位
Welcome to MP booth
期待與您Semicon展見！
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